Überblick
Anwendungsspezifische und maßgeschneiderte Lösungen
Unser Ziel ist es, Ihnen maßgeschneiderte Lösungen zur Optimierung Ihrer Arbeitsabläufe zu bieten. | Auf der Grundlage unserer weltweit führenden Produktlinie entwickeln wir maßgeschneiderte Hardware- und Softwarelösungen für Prüfungsabläufe. Unsere speziellen Angebote für Mikroskope umfassen Funktionen, mit denen deutlich mehr Proben untersucht werden können. Wir können auch direkt mit Ihnen an Hardware- und Softwaresystemen arbeiten, um die Prüfungsabläufe nach Ihren Wünschen zu automatisieren. |
Spezielle LösungenMaßgeschneiderte Lösungen für spezifische Anwendungen erweitern die Möglichkeiten Ihrer Prüfgeräte. Maßgeschneiderte SoftwareAnwendungsspezifische Arbeitsabläufe für Prüfungen mit industriellen Mikroskopen. Lösungen für Laser-Scanning-MikroskopeLaserscanning-Mikroskope erhalten erweiterte Funktionen für große und schwere Proben. Mikroskoplösungen für HalbleiterAutomatisieren Sie die Prüfung von Halbleitern mit anwendungsspezifischer Mikroskoptechnologie. Lösungen für LichtmikroskopeVielseitige Stative ermöglichen die Prüfung großer und schwerer Komponenten. |
Ein maßgeschneiderter ProzessWenn Sie bei unseren Spezialangeboten nicht das Gewünschte finden, bieten unsere vollständig maßgeschneiderten Lösungen mehr Möglichkeiten. Sie können Ihre Vorrichtungen mit speziellen Funktionen ausstatten, um Ihre anwendungsspezifischen Prüfanforderungen schnell und effektiv zu erfüllen. Senden Sie uns einfach Ihre Anfrage zur Anpassung Ihres Systems in dem untenstehenden Formular. Unsere Techniker werden sich mit Ihnen in Verbindung setzen, um eine Lösung mit Ihnen zu besprechen. |
Technische Informationen für kundenspezifische Mikroskopie-LösungenSystemintegratoren, die mit unseren kundenspezifischen Lösungen Produkte entwerfen und entwickeln, erhalten von uns Referenzdesigns (technische Informationen) für ihre Arbeit. Im Folgenden finden Sie: 3D- und 2D-CAD-Zeichnungen, um die Konstruktion der Mikroskop-Lösungen zu studieren, Support-Software, um den ferngesteuerten Betrieb der Systeme zu überprüfen und das Senden und Empfangen von Befehlen zu bestätigen, sowie Benutzerhandbücher mit einer Liste der externen Kommunikationssteuerungsbefehle und ihrer Funktionen.Lesen Sie den folgenden Haftungsausschluss sorgfältig durch und erklären Sie sich mit den Nutzungsbedingungen einverstanden, bevor Sie die Informationen herunterladen. Haftungsausschluss: Referenzdesigns
Erfahren Sie, wie unsere kundenspezifischen Lösungen Ihnen helfen können und kontaktieren Sie uns noch heute. Anmerkung:
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Industrielle Lasermikroskope
Neue Anpassungsmöglichkeiten stellen konventionelle Lösungen in den SchattenNutzen Sie alle erweiterten Funktionen des LEXT OLS5100 Laserscanning-Mikroskops für die Materialanalyse großer und schwerer Proben. |
Das OLS5100 Laser-Scanning-Mikroskop kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Dank verschiedener Anpassungsmöglichkeiten erhalten Sie eine breite Palette an fortschrittlichen Messoptionen und Funktionen. |
Anpassungsmöglichkeiten für industrielle Laserscanning-Mikroskope
- Tische für schwere Proben
- Große Brückenstative
- Hochstabile Workstations
- Stabiles Stativ mit Steinaufsatz
- Aktive Antivibrations-Tischeinheit
- Kontrollboxen für Versuchsbedingungen
- Maßgeschneiderte Vorrichtungen
- Drehbare Vakuum-Waferhalterung
- Drehbare Waferhalterung
- Gewindelochbefestigungen
Das OLS5100-TM Laser-Scanning-Mikroskop ermöglicht Messungen im Nanometerbereich an großen Proben
Das OLS5100 Mikroskop zeichnet sich durch zahlreiche Anpassungsoptionen aus, um Messungen im Nanometerbereich an großen elektronischen Bauteilen, wie Silizium-Wafern und Leiterplatten sowie an schweren Komponenten wie Automobilteilen, durchzuführen. Diese Optionen umfassen:
- Motorgesteuerte Tische mit einer Größe bis 300 × 300 mm für die Prüfung von großen und schweren Proben
- Tische mit einer höheren Tragfähigkeit von max. 30 kg
- Manuelle Verschiebung der Z-Achse zur einfachen Messung von unterschiedlich hohen Proben
Das große Brückenstativ bietet hohe Stabilität für die Messung besonders großer ProbenStabilität ist ein Schlüsselfaktor für die hochauflösende Prüfung von Komponenten wie Silizium-Wafern, Elektronikbauteilen oder großen Automobilteilen. Das anpassbare große Brückenstativ wurde entwickelt, um die Präzision und Genauigkeit der mit dem OLS5100 Mikroskop durchgeführten Messungen zu gewährleisten. Unterstützte Funktionen:
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Hochstabile, anpassbare Workstations sorgen für höchste MessgenauigkeitUm Proben wie Elektronikbauteile im Nanometerbereich mit einer optimalen Messgenauigkeit zu prüfen, müssen die Auswirkungen externer Vibrationen minimiert werden. Unsere hochstabilen Workstations ermöglichen präzise Prüfungen im Nanometerbereich. Die Worktstations umfassen:
Diese Workstation-Komponenten stehen als schlüsselfertige Komplettlösung zur Verfügung oder können entsprechend Ihren Anforderungen einzeln erworben werden. |
Das stabile Stativ mit Steinaufsatz optimiert die ArbeitsumgebungBei Prüfungen von Elektronikbauteilen und anderen Objekten im Nanometerbereich kann es schwierig sein, die Versuchsbedingungen so einzurichten, dass eine optimale Präzision erreicht wird. Das Stativ mit Steinaufsatz unterstützt zuverlässige Messungen mit hoher Auflösung.
Je nach Prüfanforderungen können aktive Antivibrationseinheiten nahtlos in das Mikroskopstativ integriert werden, um eine äußerst kompakte Lösung zu erhalten, oder als separate Antivibrations-Tischeinheit verwendet werden. |
Die aktive Antivibrations-Tischeinheit verhindert kleine Vibrationen und erhöht die PräzisionBei Anwendungen mit einer Auflösung im Nanometerbereich wie die Überprüfung von Wafern können selbst leichte Schritte oder leise Geräusche die Messgenauigkeit beeinträchtigen. Die aktive Antivibrations-Tischeinheit sorgt dafür, dass externe Vibrationen eliminiert werden, und verfügt über mehrere Funktionen, die die Stabilität und Messgenauigkeit erhöhen:
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Kontrollboxen für Versuchsbedingungen sind ein nützliches Werkzeug für die ReinrauminspektionDank der Abschirmung des Mikroskops entsteht eine Arbeitsumgebung, in der eine höhere Messgenauigkeit möglich ist und der Scanschall bei der Verwendung von LEXT-Standardsystemen reduziert wird. Die Kontrollbox für Versuchsbedingungen sorgt für effiziente Arbeitsabläufe bei der Prüfung und schirmt das Mikroskop effektiv ab. Ihr innovatives Design zeichnet sich durch folgenden Eigenschaften aus:
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Mikroporöse Vakuum-Spannvorrichtung zur optimalen Befestigung von empfindlichen ProbenFür die genaue Prüfung dünner und flexibler Objekte wie RFID-Folien, Solarpaneele und Silizium-Wafer sind Probenhalter erforderlich, die eine gleichmäßige Klemmkraft gewährleisten und die Probe kaum verformen. Die mikroporöse Vakuum-Spannvorrichtung sorgt dafür, dass empfindliche Proben während der Prüfung flach liegen und unversehrt bleiben. Erreicht wird dies durch eine gleichmäßige Ansaugung über Mikroporen anstelle von Sauglöchern oder Saugrillen.
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Drehbare Vakuum-Waferhalterung zur stabilen und sicheren Befestigung von WafernFür eine effiziente Prüfung von Silizium-Wafern müssen die Probenhalter eine einfache Probenführung ermöglichen und die Wafer stabil befestigen. Die Vakuum-Waferhalterung verfügt über mehrere Funktionen, die die Arbeitsabläufe bei der Prüfung von Wafern optimieren:
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Die drehbare Waferhalterung optimiert die Prüfung von WafernDie drehbare Waferhalterung ist eine einfache und praktische Alternative zur Fixierung von Proben, bei denen keine Vakuumansaugung erforderlich ist.
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Gewindelochbefestigungen zur einfachen Prüfung mit kundenspezifischen VorrichtungenHäufig sind spezielle Vorrichtungen erforderlich, um Rohre, Würfel oder andere unregelmäßige Objekte während der Prüfung zu halten. Mit 68 gleichmäßig verteilten M3-Gewindebohrungen eignet sich der 150 mm × 110 mm × 5,5 mm große Einsatz mit Gewindelöchern für eine Vielzahl von kundenspezifischen Proben, die vielseitig befestigt werden können |
AnwendungsbeispielAutomatisierung der Messung der Oberflächenrauheit an kritischen AutomobilkomponentenKomponenten von Verbrennungsmotoren müssen unter Einhaltung strenger Toleranzen und anspruchsvoller Normen für die Oberflächenbeschaffenheit hergestellt werden, um eine optimale Motorleistung zu erzielen. Das OLS5100 3D Laserscanning-Mikroskop kann hochpräzise, berührungslose Messungen der Oberflächenrauheit durchführen. Es eignet sich daher gut für die Qualitätskontrolle von Automobilkomponenten. | |
Ein Hersteller von Motorkomponenten wandte sich an Evident mit der Bitte, den Arbeitsablauf bei der Messung der Oberflächenrauheit zu verbessern. In Zusammenarbeit mit diesem Hersteller entwickelte Evident eine hochautomatisierte, maßgeschneiderte Lösung, die das LEXT Mikroskop umfasst. Diese Komplettlösung automatisierte die folgenden Aufgaben vollständig:
Durch die Automatisierung dieses Arbeitsablaufs konnte die Produktivität erheblich gesteigert und die Zahl der Bedienerfehler reduziert werden. Darüber hinaus müssen Präzisionsmessungen unter kontrollierten Umgebungsbedingungen durchgeführt werden. Deshalb stellte der Hersteller die Anforderung, dass die lokale Temperatur und die Hintergrundvibration automatisch aufgezeichnet und in seinem MES-Server gespeichert werden. Diese Funktion wurde von Evident in ihr System integriert. |
Digitalmikroskope
Neue Anpassungsmöglichkeiten stellen konventionelle Lösungen in den SchattenNutzen Sie unsere maßgeschneiderten Komponenten für Ihr DSX1000 Digitalmikroskop zur Untersuchung von großen und hohen Proben! |
Das DSX1000 Digitalmikroskop vereint Bedienerfreundlichkeit mit modernen Funktionen, um den Arbeitsablauf bei einer Prüfung zu optimieren. Wir bieten maßgeschneiderte Lösungen zur Erweiterung Ihres Digitalmikroskops für die Untersuchung von großen und hohen Proben. |
Anpassungsmöglichkeiten für Digitalmikroskope |
Aufrechte StativeMessungen großer Proben mit hoher Vergrößerung Das maßgeschneiderte aufrechte Stativ des DSX1000 ermöglicht genaue Messungen großer oder schwerer Proben. | Fluoreszenz-ZoomkopfMehr sehen mit Fluoreszenz Mit dieser Komponente können Sie Mängel während der Prüfung noch besser erkennen. Sie eignet sich unter anderem für die Messung der kritischen Abmessungen von Silizium-Wafern oder die Erkennung von Rissen in Lötstellen auf Leiterplatten. | Schwenkbare StativePräzise Messung großer Proben aus mehreren Winkeln Unser schwenkbares Stativ vereinfacht Ihre Prüfung und sorgt dafür, dass Sie sperrige Proben besser untersuchen können. |
Produkt-HighlightSegmentierter LED-Lichtring ermöglicht detaillierte Prüfungen in nahezu 3D-QualitätPrüfungsanwendungen wie die Untersuchung forensischer Dokumente, die Risserkennung oder die Untersuchung von Farben und Lacken können durch die Verwendung unterschiedlicher Wellenlängen des Lichts verbessert werden. | |
Deshalb entwickelte Evident segmentierte LED-Lichtringe für das DSX1000 Mikroskop, um die feinen Details Ihrer Probe während der Prüfung sichtbar zu machen:
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Halbleiter-Mikroskope
Neue Anpassungsmöglichkeiten stellen konventionelle Lösungen in den SchattenNutzen Sie das volle Potenzial einer automatisierten Halbleiterprüfung mit kundenspezifischer Mikroskop-Hardware und -Software. |
Die MX63 und MX63L Halbleitermikroskopsysteme ermöglichen die genaue Untersuchung von Wafern bis zu einer Größe von 300 mm, Flachbildschirmen, Leiterplatten und anderen großen Proben. Dank ihres modularen Aufbaus eignen sich diese ergonomischen und benutzerfreundlichen Systeme für die verschiedensten Anwendungen. Zur Optimierung der Prüfung gibt es folgende Anpassungsmöglichkeiten für die MX63 Serie:
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Anpassungsmöglichkeiten für Halbleiter-Mikroskope |
VollmotorisierungEntdecken Sie unsere motorisierten X-Y-Tische und Z-Achsen für die automatische Halbleiterprüfung. | Verbesserte BildgebungPrüfen Sie Siliziumproben mittels Durchlicht-IR beispielsweise auf Schäden am Chip und auf Kurzschlüsse. | Anwendungsspezifische ProbenhalterEs stehen verschiedene Probenhalter zur Verfügung, die für spezifische Anwendungen angepasst werden können. |
Anwendungsspezifische Software zur Optimierung Ihrer PrüfabläufeNutzen Sie alle Vorteile eines motorgesteuerten Tisches mit maßgeschneiderten Softwarelösungen. Unsere PRECiV Software kann an Ihren spezifischen Arbeitsablauf angepasst werden. |
Zum Beispiel enthält die kundenspezifische Lösung Navigate on Wafer (Navigation auf dem Wafer) einen Arbeitsablauf für die Messung in mehreren Positionen. Schauen Sie sich im Video an, wie diese Lösung das Wafer-Layout erkennt und verschiedene Punkte auf dem Wafer während der Bildgebung angesteuert. |
Kontaktieren Sie uns, um Ihre Anforderungen zu besprechen |
Lichtmikroskope
Neue Anpassungsmöglichkeiten stellen konventionelle Lösungen in den SchattenErweitern Sie die Möglichkeiten Ihrer Licht- und Stereomikroskope mit vielseitigen Stativen für die Prüfung größerer Proben. |
Lichtmikroskope werden für die Qualitätskontrolle und die detaillierte Untersuchung neu entwickelter Materialien, elektronischer Geräte, Metalle und Chemikalien eingesetzt. Die Stereomikroskope bieten eine klare stereoskopische Ansicht und lassen sich bequem und ergonomisch bedienen. Maßgeschneiderte Stative für Licht- und Stereomikroskope bieten eine hohe Stabilität, um die Messgenauigkeit zu verbessern, und können dank des motorgesteuerten Z-Antriebs die Prüfung großer Proben rationalisieren. |
Anpassungsmöglichkeiten für BXFM Brückenstative
| EinsäulenstativeEinfache Einstellung für die Prüfung großer Proben Eine effiziente Prüfung, welche die Messung von Proben unterschiedlicher Größe umfasst, setzt eine schnelle Höhenverstellung des Mikroskops voraus. |
AnwendungsbeispielMehr Messungen in kürzerer Zeit
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